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X光电子能谱（XPS）、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。

X光电子能谱（XPS）、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。
A.正确
B.错误
正确答案：正确

标签：材料科学及研究方法导论光电子成分

上一条：紫外、可见吸收光谱分析主要用于有机化合物微量和常量、组分定量分析。

下一条：二次电子的产额和原子序数之间没有明显的依赖关系，能用它来进行成分分析。