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检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。（）

检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。（）
正确答案：正确

标签：工件晶片定量

上一条：灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。（）

下一条：CSⅢ试块是一种适用于检测面为曲面的锻件检测标准试块。（）