下列关于智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标描述错误的是（）

下列关于智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标描述错误的是（）
A.1MHz脉冲群抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准
B.静电放电抗扰度试验，要求满足Ⅳ级标准
C.辐射电磁场抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准
D.工频磁场抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准
正确答案：D