待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。

待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。
A.波峰分布位置
B.波谷分布位置
C.波峰数量
D.波谷数量
正确答案：ABCD