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待试设备绕组的频率响应特性与分接开关的位置有关,建议在最低分接位置下测量,或者应保证每次测量时分接开关均处于相同的位置。

待试设备绕组的频率响应特性与分接开关的位置有关,建议在最低分接位置下测量,或者应保证每次测量时分接开关均处于相同的位置。
A、正确
B、错误
正确答案:B