现场用电桥测量介质损耗因数，出现-tanδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tanδN＞tanδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

现场用电桥测量介质损耗因数，出现-tanδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tanδN＞tanδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
A、正确
B、错误
正确答案：A