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红外测温时，对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

红外测温时，对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
A、正确
B、错误
正确答案：B

标签：变电检修技能竞赛理论知识测温判据

上一条：套管高频局部放电检测应从套管首端取信号。

下一条：暂态地电压测试时，测试金属背景值时可选择开关室内紧邻开关柜的金属门窗。