关于局部放电的干扰与抑制，可以将试品置于屏蔽良好的试验室，并采用（）测试回路，抑制辐射干扰。

关于局部放电的干扰与抑制，可以将试品置于屏蔽良好的试验室，并采用（）测试回路，抑制辐射干扰。
A.平衡法
B.对称法
C.模拟天线法
D.电桥法
正确答案：ABC