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半导体器件的主要失效模式包括断路。（）

半导体器件的主要失效模式包括断路。（）
A、错误
B、正确
正确答案：A

标签：模式半导体器件

上一条：在电极体系极化曲线测量过程中，常采用三电极体系进行测试。（）

下一条：下列关于X射线衍射（XRD）分析描述错误的是（）。