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检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。

检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。
A、直探头
B、可变角探头
C、收发联合双晶探头
D、斜探头
正确答案：C

标签：双晶收发

上一条：压电晶片的压电应变常数大，则说明该晶片接收性能好。（）

下一条：我国的CSK-1A试块是在IIW试块的基础上改进后得到的，其中将直孔φ50改成阶梯孔（）。