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光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。

光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。
A.大平面
B.小平面
C.圆柱面
D.圆跳动
正确答案：B

标签：全国行业职业技能竞赛数控技能大赛圆柱面平面

上一条：粗加工余量极不均匀时，可选用两次或数次（），视具体情况应先切去不均匀部分。

下一条：对于刮制平面，如果精度要求不高，可以用（）来检测平面度。