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博览群书
为什么测量半导体硅单晶导电类型时,要对单晶的被测表面进行喷砂处理?
为什么测量半导体硅单晶导电类型时,要对单晶的被测表面进行喷砂处理?
正确答案:测量半导体硅单晶导电类型时,因为主要测出的是点接触处表面的导电类型,要求表面无反型层、无氧化层、清洁无油污。通常要对表面进行喷砂处理或进行研磨处理,不要用经过腐蚀、抛光处理或未经处理的原始表面。半导体表面对外界十分敏感,经过化学腐蚀处理的样品容易沾上正、负离子,使半导体表面感应出反型层,从而造成测量的错误。
标签:
表面
半导体
测量
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为满足组织的能源方针而设定、与改进能源绩效相关的、明确的预期结果或成效是()
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目前测定硅单晶中的氧、碳含量最常用的方法是(),这种方法需选用具有能满足氯、碳测定波长范围的();而测定多晶硅中基硼、基磷含量的方法是()。