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PCD方法可用于测量（）。

PCD方法可用于测量（）。
A.电阻率
B.由翘度
C.平整度
D.少子寿命
正确答案：D

标签：少子电阻率寿命

上一条：要提高微晶硅太阳电池性能，核心技术是（），可使光电转换效率超过20%。

下一条：用于测试硅片中少数载流子类型的测试是（）。