在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时，常采用的测量仪器为（）

在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时，常采用的测量仪器为（）
A.电镜
B.扫描隧道显微镜
C.图像处理技术
正确答案：A