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AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品。

AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品。
A.正确
B.错误
正确答案：B

标签：半导体技术导论样品针尖

上一条：TME可观测厚度1微米以上的样品。

下一条：AFM可观测样品内部形貌特征。