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可以通过晶锭外侧的生产条纹和小平面来判断晶体的位错状态。

可以通过晶锭外侧的生产条纹和小平面来判断晶体的位错状态。
A.正确
B.错误
正确答案：正确

标签：半导体材料条纹晶体

上一条：在直拉硅晶体时最后的收尾是为了防止位错反延。

下一条：直拉硅单晶的发展呈现大尺寸大直径的趋势，单晶炉也逐渐发展变大。