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MIS结构发生多子积累时，表面的导电类型与体材料的类型（）。

MIS结构发生多子积累时，表面的导电类型与体材料的类型（）。
A.相同
B.不同
C.无关
D.不确定
正确答案：A

标签：半导体物理学类型表面

上一条：锗的晶格结构和能带结构分别是（）。

下一条：如果一半导体的导带中发现电子的几率为零，那么该半导体必定（）。