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青书学堂
反求工程形体几何参数获得的破坏性测量方法是()。
反求工程形体几何参数获得的破坏性测量方法是()。
A.三坐标测量
B.光学测量
C.启动断层扫描
D.光学测量+成分检测
正确答案:C
标签:
测量
光学
断层
上一条:
划分工序的主要依据是()。
下一条:
光刻加工采用的曝光技术中具有最高分辨率的是()。