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AFM通常用来观测样品表面形貌。

AFM通常用来观测样品表面形貌。
A.正确
B.错误
正确答案：A

标签：半导体技术导论形貌样品

上一条：TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。

下一条：XPS只能检测元素种类，无法标定元素含量。