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TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。

TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。
A.正确
B.错误
正确答案：B

标签：半导体技术导论厚度样品

上一条：通常利用TEM观测的分辨率高于SEM。

下一条：AFM通常用来观测样品表面形貌。