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通常在源区和漏区增加源漏拓展区的轻掺杂区域是为降低、减小。
通常在源区和漏区增加源漏拓展区的轻掺杂区域是为降低、减小。
正确答案：结击穿|热载流子效应
标签：
载流子
效应
区域
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CMOS中的闩锁效应又称、（）。
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CMOS集成电路的主要工艺分为、（）、（）。