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通常利用TEM观测的分辨率高于SEM。

通常利用TEM观测的分辨率高于SEM。
A.正确
B.错误
正确答案：A

标签：半导体技术导论分辨率

上一条：光刻技术中的反刻工艺，通常应用于（）的情况。

下一条：TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。